FG Mineralogie/Geochemie

REM JEOL 640 mit energiedispersiver Mikroanalyse (EDX)

Geräteparameter

Das Rasterelektronenmikroskop hat eine maximale Auflösungsgrenze von 200nm. Für die Bildgebung stehen ein Sekundärelektronendetektor (SE), Rückstreuelektronendetektor (BSE) und eine Kathodolumineszenz-Einheit (CL) zur Verfügung. Mittels energiedispersiver Mikroanalyse (EDX) ist die chemische Zusammensetzung halbquantitativ ermittelbar.

Probenpräparation

Für die Probenpräparation können die Proben wahlweise mit Gold oder Kohlenstoff bedampft werden. Strahlempfindliche Proben oder lösungsmittelhaltige Proben können mit Hilfe der Cryo-Transfer Methode für eine Untersuchung präpariert werden.

Anwendungen

  • Optische Charakterisierung der Probenbeschaffenheit von nahezu allen Materialien bei gleichzeitiger Analyse der chemischen Zusammensetzung (EDX)
  • Aufnahme von Elementverteilungsbildern (Mapping)
  • Untersuchung von Wachstumszonierungen (Kathodolumineszenz)
  • Werkstoff- und Materialcharakterisierung

Downloads

REM JEOL 640 mit energiedispersiver Mikroanalyse (EDX)

SEM mit Cryoeinheit

Optische Charakterisierung eines Portlandzementklinkers