FG Mineralogie/Geochemie
Einkristalldiffraktometer Smart 1K (Bruker)
Messprinzip und Aufbau
Das Einkristalldiffraktometer mit 4-Kreis-Goniometer und CCD-Kamera mißt Beugungsreflexmuster von Einkristallen unter Verwendung von - Strahlung. Aus diesen Beugungsmustern lassen sich Kristallsymmetrie, Elementarzelldimensionen und Raumgruppe bestimmen. Zusammen mit den gemessenen Intensitäten der detektierten Reflexe kann die Kristallstruktur berechnet werden, d.h. die räumliche Anordnung der Atome/Ionen, deren anisotrope Ausdehnungsellipsoide sowie die Platzbesetzungsfaktoren (SOF) bei z.B. Mischkristallen.
Gerätespezifikation
- • Generator/Röntgenröhre: Kristalloflex 760, Mo (Anregungsleistung: 2 kW = 50 kV∙40 mA) Strahlung: (λ = 0.71073 Å) mit Graphit-Monochromator
- • Kollimator: Monokapillare mit Pinholes 0.3-0.8 mm (routinemäßig 0.5 mm)
- • Goniometer: horizontales D5000 4-Kreisgoniometer mit ω, 2θ, φ variabel, χ = 54.74° fix Detektor: CCD-Flächendetektor CH1 (Photometrics Ltd.), CCD-Chip-Temperatur ca. -54 °C Abstand Kristall-Detektor: 30-145 mm, bei routinemäßig 50 mm sind Messungen im Winkelbereich 2-60 °2Theta möglich.
- • Das Messsystem wird regelmäßig mittels Referenzkristall YLID () kalibriert.
Einsatzbereiche
- • Strukturanalyse an Einkristallen oder einkristallinen Bruchstücken mit Abmessungen > 50 μm bis ca. 700 μm für:
- • natürliche Minerale
- • synthetische Kristallisate aus verschiedenen wissenschaftlichen und technischen Bereichen
- • metallorganische Verbindungen
- • Strukturbestimmung neuer kristalliner Substanzen